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    用于質量控制的庫侖法鍍層厚度測量儀

    • 更新時間:2021-04-13
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    用于質量控制的庫侖法鍍層厚度測量儀
    庫侖法的成本效益高,可準確地替代X射線熒光法-前提是你可以接受一種破壞性的測量方法。它為您提供了很大的靈活性,因為它可以用于廣泛的鍍層組合。您可以使用庫侖法測量鍍層厚度,特別是在電鍍鍍層的質量控制中,以及用于監測印刷電路板上的殘余純錫厚度。

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    品牌Fischer/德國菲希爾價格區間面議
    產地類別進口應用領域化工,電子,印刷包裝,航天,汽車

    用于質量控制的庫侖法鍍層厚度測量

    在一定的厚度以上,X射線熒光對鍍層的無損測量達到了極限,這就是COULOSCOPE®CMS2發揮作用的地方。它用庫侖法測量多種金屬鍍層的厚度,這是做相當簡單的退鍍處理。COULOSCOPE CMS2可以準確地測量許多常見的單層和多層鍍層。

    庫侖法的成本效益高,可準確地替代X射線熒光法-前提是你可以接受一種破壞性的測量方法。它為您提供了很大的靈活性,因為它可以用于廣泛的鍍層組合。您可以使用庫侖法測量鍍層厚度,特別是在電鍍鍍層的質量控制中,以及用于監測印刷電路板上的殘余純錫厚度。

    STEP測試:庫侖法測量鍍層厚度和多層鎳的電化學電位測量

    如果你想在使用庫侖法測量鍍層厚度的同時測量電化學電勢,那么COULOSCOPE CMS2 STEP就是你的選擇。STEP測試方法可以同時測量多層鎳鍍層的電位差和鍍層厚度,非常適合測定這些鍍層的腐蝕行為。

    特性

    • 高精度測量多層金屬鍍層的厚度(庫侖法)
    • 根據DIN EN ISO 2177進行測量
    • 通過彩色顯示屏和圖形支持的用戶指南直觀地操作
    • 可輕松選擇電解速度(0.1-50微米/分鐘)和電解面積(0.6-3.2mm)
    • 針對不同鍍層系統(如鐵上鍍鋅或黃銅上鍍鎳)預先設定了近100種測量應用
    • 測量單元上電壓曲線的圖形顯示
    • 圖形和統計評估
    • 帶支撐架的部分自動化測量,適用于各種樣品尺寸
    • 全面的配件組合,以適應特定的要求

    COULOSCOPE CMS2 STEP的附加功能

    • 同時測量鍍層厚度和電位差
    • 根據ASTM B764 - 04和DIN EN 16866進行電位差測試
    • 銀參比電極測量前的準備工作(產生必要的AgCl層)
    • 電解電流可調整
    • 可直接在測厚儀顯示器上評估電位曲線

    應用

    • 電鍍生產過程中的監控和成品的進廠檢驗
    • 可以準確測量多種金屬鍍層的厚度0.05–50µm(根據材料不同)
    • 金屬和非金屬基材上單層和多層鍍層厚度的測量
    • 多鍍層體系:例如在鐵或塑料基體(ABS)上鍍鉻/鎳/銅等多層鍍層
    • 雙鍍層體系:例如銀或銅上面鍍錫或鍍鎳
    • 單鍍層如鐵上鍍鋅

    COULOSCOPE CMS2 STEP的額外應用

    • STEP測試:在銅、鐵、鋁或塑料襯底(ABS)上的多層鎳層系統

     

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