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    • 菲希爾x射線鍍層測厚儀fischer xdv-sdd

      更新時間:2021-02-23

      廠商性質:代理商

      菲希爾x射線鍍層測厚儀fischerxdv-sdd FISCHERSCOPEX-RAYXDV-SDD型儀器配備了感應區域大而分辨率良好的硅漂移接收器,這樣在使用大準直器的情況下,可以達到很高的計數率,從而實現良好的重復精度和很低的檢測下限。XDV-SDD非常適合痕量分析中非常薄鍍層的測量。
    • X-RAY XUL/XULM電鍍或電子元件鍍層測厚儀

      更新時間:2021-04-16

      廠商性質:代理商

      X-RAYXUL/XULM電鍍或電子元件鍍層測厚儀 在電鍍或電子元件生產過程中需要快速且準確地測定鍍層厚度時,XUL®系列測量儀器是您的*選解決方案。X射線熒光儀器可自下而上進行測量,能夠在測量臺上對樣品進行輕松定位。該系列的所有X射線儀器均配備相同的探測器。您可以根據自己的測量需求選擇不同的準直器、濾波器以及X射線管。
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